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对芯片测试有天然的热情,喜欢从故障模型中挖掘覆盖率提升空间,把“零缺陷”当作一种职业本能。习惯以严谨的逻辑和耐心去推敲每一条测试向量,即使面对复杂设计也能保持冷静。具备扎实的DFT方法学基础,熟练运用主流测试开发平台,同时对跨团队协作和流程优化有持续打磨的意愿,希望用可落地的测试方案为量产良率护航。
主导申请《一种基于边界扫描的芯片互联故障检测装置》发明专利1项(已受理),通过优化测试访问机制显著缩短了多芯片模组的测试时间。
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