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对芯片测试的精准度与覆盖率有执念,享受从逻辑缺陷中抽丝剥茧、定位根因的挑战。保持对DFT结构的深耕与脚本开发的敏锐度,习惯用自动化思维打磨每一行测试向量。在协作中注重测试流程的闭环与效率,致力于将可测性设计转化为可靠良率,愿在DFT领域持续做深、做实。
跟踪ETS、DATE等国际测试与设计自动化会议进展,按月整理DFT自动化工具链与可测试性设计热点,形成内部分享简报,为团队技术选型提供信息支撑。

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