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常怀探索之心,以实干沉淀自身价值
对混合信号芯片可测试性设计抱有浓厚兴趣,享受从架构层面推敲故障覆盖率的严谨感,习惯在质量与成本间寻找最优解;具备扎实的DFT全流程实现能力,对扫描链、边界扫描及模拟BIST有深入理解,能快速定位跨时钟域与数模接口的测试难点;团队协作中乐于分享调试思路,持续关注先进制程下的测试新方法,希望为芯片量产良率提供坚实保障。
持续追踪IEEE 1687 IJTAG等最新测试标准,撰写技术摘要并组织内部研讨会,促进团队知识更新。
探索基于图神经网络的故障定位方法,在技术分享会上演示原型,激发团队对智能测试的讨论。
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