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《一种基于扫描链故障注入的芯片 DFT 失效定位方法》专利(CN2023XXXXXX),通过构建可配置的故障注入与响应捕获机制,将失效点定位效率提升 30% 以上,已落地于多款 SoC 量产测试流程。
痴迷于芯片内部逻辑的抽丝剥茧,对DFT失效分析保有持续钻研的热情;做事严谨、抗压,习惯从测试数据的细微异常中定位根因。擅长运用逻辑分析、波形捕获等手段,结合Python自动化脚本提升分析效率,常以协作共识推动良率改善——期待在失效分析领域持续深耕,成为可靠的技术闭环者。
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