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对芯片可测性设计有执念,享受从RTL到ATE全程追覆盖率、逐级压缩测试时间的攻坚过程;做事讲求逻辑闭环与工程严谨,习惯用脚本固化重复流程、减少人为误判。具备扎实的DFT架构与主流EDA工具能力,能快速定位扫描链、压缩逻辑与时钟域问题;沟通直接、目标感强,希望在DFT工程师岗位上持续交付高良率、低DPPM的测试方案。
熟练掌握IEEE 1149.1与1149.6标准,曾主导一款车载SoC芯片的边界扫描链架构设计,实现跨芯片互联与板级全链路测试,故障覆盖率提升至99.5%,推动系统级测试成本降低约20%。
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