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痴迷于芯片测试的精细与严谨,把每一次信号捕捉和异常定位都当作解谜,享受在数据中还原物理世界的真实反馈。具备极强的逻辑推演能力与耐心,习惯从失效模式逆向推导根因,对测试覆盖率和设备稳定性有近乎苛刻的追求。熟练驾驭ATE、探针台及高精度仪表,能快速搭建高可靠测试环境,并乐于在跨团队协同中沉淀可复用的工程方法,期待持续为芯片良率提升贡献确定性。
热衷钻研先进测试方法,利用业余时间开发了基于Python的ATE测试数据分析工具,可自动生成Shmoo图、进行Bin分类统计与异常芯片追踪,显著提升了测试报告生成效率。
作为主要贡献者,参与编写了《IC测试设备日常维护与故障诊断手册》,内容涵盖探针台校准、Handler机械臂故障排查及Load Board检查等,被团队采纳为标准化参考文档,支撑了新员工快速上手。

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