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对芯片测试抱有近乎偏执的精准追求,享受从验证方案中挖掘潜在风险的专注感。有敏锐的缺陷洞察力和严谨的验证闭环意识,习惯在调试中追求零误报的测试覆盖率。擅长自动化测试框架搭建与ATE平台调试,能在复杂测试需求中快速定位关键节点。乐于在跨部门沟通中充当技术翻译,期望在先进制程或高可靠性芯片领域持续深耕测试工程。
持续追踪先进封装与异构集成测试前沿,探索基于深度学习的晶圆级缺陷分类与自适应测试流程裁剪方法。
已发表2篇芯片测试领域学术论文,其中一篇提出的动态测试向量重排序算法被EI收录,相关策略获多家测试设备厂商关注。

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