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对数字芯片测试怀有天然的好奇与较真,喜欢在信号与波形中寻踪追迹,把每一次故障定位都当作解谜。具备工程师的严谨与耐心,面对复杂现象能沉下心梳理逻辑,不放过任何可疑细节。熟练运用 ATE 平台、高速示波器等工具,习惯从效率与覆盖率角度优化测试方案。在团队中乐于分享调试心得,希望带动集体技术提升,在芯片测试岗位上持续深耕,追求零缺陷交付。
使用 Python 配合 Grafana 搭建了面向 CP/FT 的实时良率监控平台,支持 bin 分布、参数漂移趋势自动刷新与阈值告警推送。
重构了测试报告生成流水线,将原本需要人工 3 小时的数据整理与画图工作压缩至 15 分钟,并通过邮件自动分发异常批次摘要,推广至量产线使用。

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