对芯片测试始终保持敬畏与热情，坚信每一颗流片前的验证都是对可靠性的承诺，习惯在严苛的工艺边界下反复推敲测试覆盖与良率。性格沉稳细致，面对复杂 SoC 或 SIP 系统能快速理清信号流与关键节点，不放过任何潜在失效模式。擅长基于 ATE 或 SLT 平台搭建高效验证环境，能将设计规格转化为可量产的测试方案，并持续优化程序以降低测试时间与成本。乐于在跨团队协作中充当技术桥梁，近年也主动探索先进封装与车规级芯片的测试策略，期待在更具挑战的平台上把测试工程做到极致。