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围绕测试效率提升与封装质量控制,主导撰写 2 项技术专利;其中一项针对测试设备误判率高的痛点,设计了动态校准算法,实装在测试线上后显著减少了过杀现象,提升了产线良率。

对半导体封装测试行业怀有深厚热情,习惯在微观数据中寻找宏观质量规律,视良率提升为职业成就感的核心来源。性格严谨细致,对生产过程中的参数波动保持高度敏感,擅长在复杂制造环境中建立标准化、可追溯的测试流程。具备自动化测试架构思维与团队赋能经验,乐于通过技术手段降低制造成本并提升交付稳定性。求职意向明确,希望投身于高标准芯片制造体系,以专业的测试质量护航产品竞争力。
围绕测试效率提升与封装质量控制,主导撰写 2 项技术专利;其中一项针对测试设备误判率高的痛点,设计了动态校准算法,实装在测试线上后显著减少了过杀现象,提升了产线良率。
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