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获授权《一种面向 DSP 芯片的并行测试方法及装置》实用新型专利,通过多通道激励采集与硬件自动比对,将单颗芯片测试周期缩短 40%,已在实际工程中应用。
对芯片测试由好奇驱动,坚信每一个未被发现的缺陷都可能影响产品灵魂,因此始终带着审慎与执着去拆解复杂的信号与逻辑。我习惯用 Python 和 C 搭建自动化验证闭环,让重复性操作成为精准的助力,也乐于为团队引入更高效的测试框架。遇到棘手问题,能主动协调多方快速定位根因,并在压力下保持冷静,追求在 DSP 测试岗位持续构建可靠的质量防线。
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