•主修集成电路设计、半导体物理与器件课程，独立完成CMOS传感器模拟电路设计项目，获校级优秀毕业设计。
•作为队长参加全国大学生集成电路设计大赛，设计低功耗电池管理芯片并通过FPGA验证，获区域二等奖。
•担任学院电子协会技术部长，组织芯片测试工作坊，带领团队完成3次校企合作测试设备调试项目。
•从零搭建智能终端芯片测试团队，带领成员完成5款消费级SoC芯片的量产验证，建立测试用例库与缺陷追踪体系，测试周期缩短40%。
•针对射频前端芯片设计专项测试方案，通过优化信号频谱分析流程，将EVM误差定位效率提升60%，协助解决3起量产阶段射频性能异常问题。
•主导建立芯片可靠性加速测试流程，整合温度循环与ESD测试模块，使产品寿命预测准确率达95%，获得客户年度供应商质量奖。
•推行测试数据可视化看板，整合SPC统计过程控制方法，使生产异常响应时间从8小时压缩至2小时，年节约人力成本约150万元。
长江存储科技有限责任公司 - 测试开发部国家科技重大专项企业
2011.07-2014.06
•负责智能传感器芯片的功能验证，设计涵盖I2C/SPI接口的自动化测试脚本，实现100%寄存器级覆盖验证，发现5处设计遗漏的时序违规问题。
•建立芯片功耗测试基准模型，通过动态负载切换与热成像分析，定位3处异常功耗点，使芯片待机功耗降低18%，助力产品通过低功耗认证。
•参与晶圆级测试（CP）流程优化，提出探针卡压力补偿方案，使测试良率从89%提升至96%，缩短测试设备调试周期2周。
•编制芯片测试规范文档20余份，建立新员工实训沙盘，使测试团队认证通过率从72%提升至95%。
•负责车载信息娱乐系统主控芯片测试架构设计，协调6人团队完成符合ISO 26262 ASIL-B标准的测试方案。
•构建硬件在环测试环境，集成CANoe与Carla仿真平台，模拟48V车载电源波动及-40℃极寒工况，发现2处ECU通信时序缺陷。
•开发芯片故障注入工具链，通过Bit-flip技术验证安全机制有效性，协助通过功能安全FMEA评审，使认证周期缩短3个月。
•项目交付后客户量产良率达99.2%，获得整车厂供应商金奖，为公司创造600万元技术服务收益。
•针对12nm工艺边缘AI芯片设计测试策略，拆解NPU模块的32个功能子项，建立分层测试金字塔模型。
•搭建AI模型压力测试平台，集成TensorRT与MLPerf基准套件，验证芯片在YOLOv8推理任务中的TOPS性能稳定性。
•创新性提出动态电压频率调节（DVFS）测试方案，发现3处功耗墙触发异常，推动芯片功耗管理IP迭代升级。
•项目成果形成测试方法白皮书，被应用于后续3款芯片开发，使测试阶段问题闭环效率提升35%。
紫光展锐科技年度卓越团队奖（2019年，作为测试组长带领团队获得） 长江存储科技技术创新突破奖（2014年，因3D NAND芯片测试方法研发获奖） 芯片测试技术专利:
持有《一种芯片测试流程优化方法及系统》发明专利（专利号：CN2023XXXXXX.X），该技术通过动态测试序列调度，使测试设备利用率提升25%，已应用于公司5条产线。
