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系统研习模拟/数字电路设计、信号与电源完整性分析等课程,连续两年获校级学业奖学金,为硬件信号测试与故障定位打下扎实的理论根基。
曾任电子科技创新协会副会长,统筹智能小车循迹算法调试与无线充电效率优化项目,多次带队获得校级创新竞赛一等奖,积累了丰富的硬件调试与跨团队协作经验。
负责多款电源管理芯片的硬件测试方案制定,开发自动化测试脚本,使测试周期缩短35%,确保芯片在宽电压范围下的稳定性。
熟练运用示波器、网络分析仪、高低温试验箱等设备,对芯片进行电气特性、ESD、闩锁效应等全方位评估,累计完成数十批次芯片评估,定位并推动解决一系列硬件缺陷。
与设计团队紧密配合,深入分析ATE测试数据,撰写详尽测试报告,为芯片改版提供关键依据。
主导高性能MCU芯片的硬件测试项目,带领5人团队制定多层次测试策略,覆盖功能、性能、可靠性测试,成功完成量产前验证,产品已应用于多家汽车电子客户。
负责测试设备选型与自动化测试平台搭建,引入边界扫描测试和机器视觉辅助检测,将测试成本降低约20%,测试覆盖率提升至98%。
组织部门技术分享,开发测试工程师培训课程,指导新员工快速上手,提升团队整体测试能力。
作为测试核心成员,负责制定低功耗蓝牙SoC芯片的硬件测试计划,涵盖功耗、射频性能、接口兼容性等关键指标。
通过分析功耗曲线,发现芯片在睡眠模式下存在异常唤醒的硬件bug,协同设计团队定位根源,成功解决,确保项目按期交付。
该芯片已成功应用于智能穿戴设备,累计出货量超百万颗。
针对高速SerDes接口芯片测试中耗时长的问题,主导优化测试方案,引入多芯片并行测试技术。
重新设计测试向量,优化测试项顺序,使单芯片测试时间缩短40%,测试误判率降至0.3%以下。
该优化方案被推广至其他高速接口项目,显著提升部门整体测试吞吐量。
对半导体器件的物理特性与失效机理始终抱有探究热情,习惯以数据驱动、逐层排查的方式逼近问题根因;擅长在高压测试环境中保持冷静与细致,对信号异常和时序波动高度敏感。熟练驾驭ATE、示波器、探针台等工具,并能用自动化脚本提升覆盖效率。乐于与设计、工艺团队深度协作,希望持续在硬件测试领域深耕,把验证闭环做得更扎实、更可靠。
持续跟进 Chiplet 异构集成与先进封装最新路线图,定期参加半导体测试与可靠性技术闭门研讨,将前沿测试策略融入日常验证方案,提升产品良率评估的前瞻性。
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