深耕半导体测试领域多年，我始终对芯片良率提升抱有执念，认为测试工艺是连接设计与量产的关键桥梁。性格沉稳严谨，对测试数据中的异常波动具备敏锐的洞察力，习惯通过标准化流程规避风险。熟练掌握 ATE 测试编程与良率分析工具，具备从工艺开发到量产导入的全流程把控能力。热衷于钻研自动化测试脚本优化，曾通过算法改进显著缩短测试时间。期待在芯片测试工艺岗位上，以技术实力守护产品可靠性，持续推动测试效率革新。